通知公告
平台服务
薄膜
光刻
刻蚀
注入
高温工艺
平坦化
湿法工艺
分析表征
封装
测试
中心概况
实验教学
人才培养
师资队伍
关键参数:波长范围:370 nm~1100 nm;测量范围:15 nm~50 μm;准确度:优于0.5%;重复性:优于0.2 Å。光学系统:配10倍和50倍物镜;数字成像:1280´1024像素数码相机,可以测量线宽角度
主要功能:用于对8吋及以下薄膜样品进行无接触的无损厚度测量,可以实现mapping测量。