通知公告
平台服务
薄膜
光刻
刻蚀
注入
高温工艺
平坦化
湿法工艺
分析表征
封装
测试
中心概况
实验教学
人才培养
师资队伍
关键参数:适用于4吋及以下晶圆,兼容碎片;偏压射频频率400 kHz,功率1.25 kW;ICP频率13.56 MHz,功率3 kW;刻蚀均匀性面内<±5%;面间<±5%;刻蚀垂直度90°±1°(TSV),90°±1°(沟槽);92°±1°(Via)。
主要功能:主要用于4吋及以下硅基材料(如Si、SiO2、SiNx等)的深/浅硅刻蚀。