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关键参数:适用于6吋、4吋晶圆;腐蚀均匀性(针对1 μm的Al膜和1 μm的SiO2膜):片内≤2%,片间≤3%;单片腔体;颗粒增加值≤30个/片@0.2 μm(6吋)。
主要功能:主要用于对半导体材料(如Si、GaAs等)、介质材料(如SiO2、SiNx等)进行选择性腐蚀。适合用于刻蚀的反面保护工艺。适合不同的双面器件工艺。