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关键参数:肖特基场发射电子枪;分辨率:≤0.6 nm @ 15 kV,SE;≤1.0 nm @ 1 kV,SE;加速电压范围:20 V~35 kV;放大倍数范围:1x~2,500,000x(1~16x为光学放大);X射线能谱仪(EDS);电子背散射衍射探测器(EBSD)。
主要功能:用于纳米材料的超高分辨微观形貌观察和微区成分、晶向分析。